點擊圖片查看大圖牛津儀器CMI760、CMI500專用的孔銅標準片
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計；采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和先進的統計功能，統計功能用于數據整理分析。
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型號 |
CMI760 |
CMI760E |
備注 |
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名稱 |
臺式面銅測厚儀 |
臺式孔、面銅測厚儀 |
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標配 |
l 700 SERIES主機及證書 l SRP-4面銅探頭（內含SRP-4探針） l NIST認證的面銅標準片及證書 |
l 700 SERIES主機及證書 l SRP-4面銅探頭（內含SRP-4探針） l NIST認證的面銅標準片及證書 l ETP孔銅探頭 l NIST認證的ETP標準片及證書 |
SRP-4探針又稱水晶頭 |
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選配 |
l SRG軟件：數據不可編輯 l SRGD軟件：帶數據庫 |
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700 SERIES主機參數：
l 存 儲 量：8000字節，非易失性
l 尺 寸：長×寬×高292.1×270×140mm
l 重 量：2.79Kg
l 電 源：AC220V
l 單位轉換：通過一個按鍵實現英制和公制的自動轉換
l 單 位：可選mils 、μm、μin、mm、in或%為顯示單位
l 接 口：RS-232 串行接口，波特率可調，用于下載至打印機或計算機
l 顯 示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏，480(H)×32(V)象素
l 統計顯示：測量個數，標準差，平均值，大值，小值
l 統計報告：需配置串行打印機或PC電腦下載，存儲位置，測量個數，銅箔類型，線形銅線寬，測量日期/時間，平均值，標準差，方差百分比，準確度，高值，低值，值域，CPK 值，單個讀數，時間戳，直方圖
l 圖 表：直方圖，趨勢圖，X-R 圖
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