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孔銅面銅測厚,孔銅測厚儀,面銅測厚儀,銅厚測量儀,銅厚度檢測
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產品/服務: 瀏覽次數:2073孔銅面銅測厚儀CMI760 
型 號: CMI760 
規 格: CMI760 
品 牌: 牛津 
單 價: 30000.00元/臺 
起訂量: 1 臺 
供貨總量: 100 臺
發貨期限: 自買家付款之日起 10 天內發貨
更新日期: 2017-12-21  有效期至:長期有效
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產品屬性
 產品型號:  CMI760
 產品規格:  CMI760
 產品品牌:  牛津
產品優勢
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和先進的統計功能,統計功能用于數據整理分析。
詳細信息

CMI760CMI700系列專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和先進的統計功能,統計功能用于數據整理分析。

 

型號

CMI760

CMI760E

備注

名稱

臺式面銅測厚儀

臺式孔、面銅測厚儀

標配

l 700 SERIES主機及證書

l SRP-4面銅探頭(內含SRP-4探針)

l NIST認證的面銅標準片及證書

l 700 SERIES主機及證書

l SRP-4面銅探頭(內含SRP-4探針)

l NIST認證的面銅標準片及證書

l ETP孔銅探頭

l NIST認證的ETP標準片及證書

SRP-4探針又稱水晶頭

選配

l SRG軟件:數據不可編輯

l SRGD軟件:帶數據庫

 
 

700 SERIES主機參數

 

l 量:8000字節,非易失性

l     寸:長××292.1×270×140mm

l     量:2.79Kg

l     源:AC220V

l 單位轉換:通過一個按鍵實現英制和公制的自動轉換

l     位:可選mils μmμinmmin%為顯示單位

l     口:RS-232 串行接口,波特率可調,用于下載至打印機或計算機

l     示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏,480(H)×32(V)象素

l 統計顯示:測量個數,標準差,平均值,大值,小值

l 統計報告:需配置串行打印機或PC電腦下載,存儲位置,測量個數,銅箔類型,線形銅線寬,測量日期/時間,平均值,標準差,方差百分比,準確度,高值,低值,值域,CPK 值,單個讀數,時間戳,直方圖

l     表:直方圖,趨勢圖,X-R

 

 

SRP-4面銅探頭參數:

 

l 準確度:5%參考標準片

l 精確度:化學銅:標準差0.2 %電鍍銅:標準差0.3 %

l 分辨率:0.1μm≥10μm0.01μm<10μm0.001μm<1μm0.01mils≥1 mil0.001mils<1mil

l 厚度測量范圍:化學銅:0.25μm–12.7μm10μin–500μin

電鍍銅:2.5μm–254μm0.1mil–10mil

l 線性銅線寬范圍:203μm–7620μm8mil–300mil

l 工作特點:應用先進的微電阻測試技術。系繩式探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負極;測量時,電流由正極到負極會有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數關系準確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換,為牛津儀器專利產品。探頭的照明功能和保護罩方便測量時準確定位。

 

ETP孔銅探頭參數:

 

l 準確度:5%參考標準片

l 精確度:1.2 mil 時,1.0% (典型情況下)

l 分辨率:0.01 mils (0.25 μm)

l 電渦流:遵守ASTM E37696 標準的相關規定

l 測量厚度范圍:2--102μm 0.08 -- 4.0 mils

l 孔小直徑:Φ35 mils (Φ899 μm)

l 孔徑范圍:Φ0.899 mm--Φ3.0 mm

l 工作特點:應用電渦流測試技術。測量時利用探頭釋放出電磁波,當磁場切割金屬層時會發生磁場變化,通過計算此變化量計算出孔壁銅厚度。測量不受板內層影響,即使是雙層板或多層板,甚至在有錫或錫/鉛保護層的情況下,同樣能夠良好工作。另外,探頭采用溫度補償技術,即使是剛從電鍍槽內取出的板,也能測量孔銅厚度。

 

    電渦流原理 
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