表面形貌及成分分析

中國科學院廣州化學研究所分析測試中心

事業部---卿工---13113316131

    通過分析樣品的表面/或近表面來表征材料。基于您所需要的資料,我們可以為您的項目選擇的分析技術。 我們的絕大部分的技術使用固體樣品，有時會用少的液體樣品來獲取固體表面的化學信息。在許多情況下材料表征和表面分析是很好的選擇，絕大大部分屬于兩類: 
1）已知自己擁有什么樣的材料，但是想要更多關于具體性能的信息，比如界面銳度、剖面分布、形態、晶體結構、厚度、應力以及質量。
2）您有對之不是完全了解的材料，想找出有關它的成份、沾污、殘留物、界面層、雜質等。

· 光學顯微鏡(OM)檢查

· 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)

· 俄歇電子能譜 (AES, Auger)

· X射線光電子能譜/電子光譜化學分析儀(XPS/ESCA)

· 二次離子質譜(SIMS)

· 飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)

· X射線熒光分析(XRF)

· 掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡(AFM)

· 激光共聚焦顯微鏡(CLSM)